پورتال همایش های دانشگاه رازی
  • صفحه اصلی
  • اخبار
  • گالري عکس
  • آرشیو مقالات
  • آیین نامه ها و فرم ها
  • لینک های مرتبط
  • سایت دانشگاه
  • تماس با ما
Bootstrap Touch Slider
  1. :. صفحه اصلی
  2. آرشیو مقالات رویداد ها
  3. مجموعه مقالات بیستمین کنفرانس ملی دانشجویی مهندسی برق ایران
  4. مقاله تحلیل TCAD از تغییرات آلایش کانال بر مشخصه های الکتریکی ماسفت دو گیتی در کاربردهای آنالوگ و دیجیتال
عنوان رویداد : بیستمین کنفرانس ملی دانشجویی مهندسی برق ایران
تاریخ برگزاری : 19 خرداد ماه 1400

تحلیل TCAD از تغییرات آلایش کانال بر مشخصه های الکتریکی ماسفت دو گیتی در کاربردهای آنالوگ و دیجیتال

TCAD analysis of variation in channel doping concentration on Double-Gate MOSFET parameters for Analog and Digital Applications
نویسندگان :

سید حسین علوی راد ( دانشگاه آزاد اسلامی واحد لنگرود )

دانلود فایل   

چکیده

در این مقاله، عملکرد ترانزیستور اثر میدان نیمه رسانای اکسید فلز دو گیتی (DG-MOSFET) در آلایش های گوناگون کانال بررسی و تحلیل شده است. مشخصه های الکتریکی مهم در کاربردهای آنالوگ و دیجیتال، مانند ولتاژ آستانه، جریان خاموشی و جریان حالت روشن به ازای آلایش کانال متغیر از 1*10^16 cm^-3 تا 2*10^13 cm^-3 مقایسه شده اند. بایاس درین از mV 10 تا V 1 افزایش داده شده، تا تأثیر DIBL در آلایش کانال گوناگون بررسی گردد. افزون بر این، با توجه به اهمیت کلیدی نسبت Ion/Ioff در عملکرد دیجیتال افزاره، تأثیر آلایش کانال بر این مشخصه نیز بررسی شده است. در پایان، انتخاب مقدار بهینه ی آلایش کانال با توجه به رابطه های جایگزینی بین توانایی سوییچینگ، جریان حالت روشن، نیاز به توان و اثرات کانال کوتاه مانند DIBL و جریان خاموشی، بحث و بررسی شده اند. استخراج مشخصه ها در این مقاله با استفاده از ابزار شبیه ساز ATLASTM انجام شده است.

کليدواژه ها

: اثرات کانال کوتاه، تغییرات آلایش کانال، جریان خاموشی، کاهش سد القا شده ی درین (DIBL)، ماسفت دو گیتی (DG-MOSFET).

کد مقاله / لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله، می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است :

نحوه استناد به مقاله

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
سید حسین علوی راد , 1400 , تحلیل TCAD از تغییرات آلایش کانال بر مشخصه های الکتریکی ماسفت دو گیتی در کاربردهای آنالوگ و دیجیتال , بیستمین کنفرانس ملی دانشجویی مهندسی برق ایران

برگرفته از رویداد



بیستمین کنفرانس ملی دانشجویی مهندسی برق ایران
تاریخ برگزاری : 19 خرداد ماه 1400


دیگر مقالات این رویداد

  • ارزیابی الگوریتم تصمیم گیری هرس درخت برای دقت پیچیدگی و طبقه بندی(مطالعه موردی)
  • کنترل تراکم شبکه های دیتا با استفاده از کنترل مقاوم
  • مروری بر سلول خورشیدی سیلیکونی نسل اول
  • امنیت فضای سایبری با استفاده از فناوری های نسل 5 در شهر هوشمند
  • ناحیه بندی خودکار کانال ریشه در تصاویر CBCT دندان
  • تأثیر متقابل فرکانس نمونه برداری و هزینه کنترل کننده های دیجیتال مبتنی برFPGA
  • بررسی و اندازه گیری ویژگی های الکتریکی تک سلول با استفاده از شبیه سازی تراشه میکروسیالی ترکیبی از روشهای IFC و EIS بر روی دو نوع سلول سرطانی
  • کنترل مقاوم سیستم آونگ هوایی در حضور نایقینی
  • طیف سنجی امپدانس الکتریکی برای اندازه گیری رشد سلول های سرطانی و تمایز آنها
  • تماس با ما


    نشانی: کرمانشاه، طاق بستان، خیابان دانشگاه، دانشگاه رازی
    تلفن: ۶-۳۴۲۷۷۶۰۵-۰۸۳
    کدپستی: ۶۷۱۴۴۱۴۹۷۱
    پست الکترونیکی: info@razi.ac.ir
    مدیر تارنما: webmaster@razi.ac.ir

    © کلیه حقوق متعلق به دانشگاه رازی کرمانشاه می‌باشد.

    همایش نگار (نسخه 10.0.12)    [مدیریت سایت]